一、試驗(yàn)原理與目的

加速老化機(jī)制

通過高溫、高濕、鹽霧、振動等極端條件，加速材料氧化、觸點(diǎn)腐蝕、絕緣老化等失效過程，模擬多年使用后的性能衰減 。

例如：高溫（85~125℃）可加速金屬擴(kuò)散和聚合物降解，鹽霧（5% NaCl溶液）模擬海洋或除冰鹽環(huán)境對金屬外殼的腐蝕。

核心目標(biāo)

預(yù)測插頭在航空環(huán)境（如高空低溫、發(fā)動機(jī)艙高溫、沿海鹽霧）下的壽命，確保其滿足MIL-DTL-38999等軍用標(biāo)準(zhǔn)。

二、試驗(yàn)方法與標(biāo)準(zhǔn)

環(huán)境應(yīng)力組合

高溫高濕試驗(yàn)：85℃/85%RH條件下持續(xù)1000小時，評估絕緣材料吸濕性和觸點(diǎn)氧化 。

鹽霧試驗(yàn)：48~96小時5%鹽霧噴灑，檢測外殼鍍層（如鎳鍍層）耐腐蝕性和密封性。

溫度循環(huán)：-55℃~+125℃快速交替，驗(yàn)證材料熱膨脹系數(shù)匹配性及插針?biāo)蓜语L(fēng)險。

機(jī)械應(yīng)力測試

振動老化：模擬飛行中高頻振動（20~2000Hz），檢測插針微動磨損和接觸電阻變化 。

插拔耐久性：使用步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動插拔裝置（如專利CN103743992A所述），以500~1000次插拔測試鎖緊機(jī)構(gòu)磨損。

電氣性能監(jiān)測

接觸電阻：四線法測量，鍍金觸點(diǎn)要求≤10mΩ（信號端）或≤1mΩ（功率端）。

絕緣耐壓：施加1.5倍額定電壓（如1500V AC/1分鐘），檢測擊穿或漏電。

三、試驗(yàn)設(shè)備與系統(tǒng)

綜合測試平臺

如專利CN203551690U所述，系統(tǒng)集成程控電源、負(fù)載模擬器和工業(yè)計算機(jī)，實(shí)時記錄電壓、電流等參數(shù)。

采用“子母板”或Socket連接方式適配不同插頭封裝，確保測試覆蓋率。

自動化控制

動態(tài)測試中借鑒“電梯速度曲線”控制插拔行程，避免加速度突變導(dǎo)致機(jī)械損傷。

四、數(shù)據(jù)評估與失效分析

關(guān)鍵指標(biāo)老化后性能衰減≤20%（如插拔力、絕緣電阻），且無結(jié)構(gòu)性失效（裂紋、鍍層剝落） 。

失效模式觸點(diǎn)硫化（鍍銀端子）、密封圈硬化（硅膠老化）、絕緣碳化（高溫導(dǎo)致）等。

五、應(yīng)用場景與局限性

適用場景航空插頭需通過加速老化試驗(yàn)方可應(yīng)用于起落架、航電系統(tǒng)等關(guān)鍵部位。

局限性鹽霧測試對非海洋環(huán)境插頭意義有限，微動腐蝕更需振動+溫濕循環(huán)測試。

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